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產(chǎn)品中心
| 品牌 | BYK/德國 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 手動(dòng) |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 交通,印刷包裝,紡織皮革,汽車,電氣 |
byk gardner micro-tri-gloss 45度光澤度儀
德國BYK光澤度儀4563
訂購信息 | |||||
型號(hào) | 名稱 | 角度 | 應(yīng)用 | 測(cè)量面積 | |
4560 | 新微型光澤儀20° | 20° | 高光澤 | 10x10mm | |
4561 | 新微型光澤儀60° | 60° | 中光澤 | 9x15mm | |
4562 | 新微型光澤儀85° | 85° | 低光澤 | 5x38mm | |
4563 | 新微型三角度光澤儀 | 20°60°85° | 各種光澤 | 參見各角度 | |
4564 | 新微型三角度光澤儀μ | 20°60°85° | 各種光澤 | 參見各角度 | |
4565 | 新微型光澤儀60°S | 60° | 中光澤 | 9x15mm | |
4566 | 新微型三角度光澤儀S | 20°60°85° | 各種光澤 | 參見各種角度 | |
4567 | 新微型光澤儀45° | 45° | 陶瓷，塑料，薄膜 | 9x13mm | |
4568 | 新微型光澤儀75° | 75° | 紙張，聚乙烯 | 7x24mm | |
4569 | 新微型光澤儀60°XS | 60° | 中光澤 | 2x4mm | |
4570 | 新微型光澤儀60°XS-S | 60° | 中光澤 | 2x4mm | |
| 特殊應(yīng)用的光澤測(cè)量 特殊的材料要求特殊的測(cè)量角度: 陶瓷材料，塑料薄膜和硬質(zhì)塑料，紙張和硬紙板不僅可用20",60°, 85*常規(guī)角度進(jìn)行測(cè)量，也可按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)選擇45°或75°。 微型光澤儀45° 對(duì)于中低光澤產(chǎn)品，塑料薄膜和硬質(zhì)塑料，不論透明還是不透明材質(zhì)，通常都用45角來測(cè)量。對(duì)于透光的薄膜，請(qǐng)用型號(hào)為5015的黑色耐擦洗實(shí)驗(yàn)板作為啞光黑色背景(174頁) 墊于樣品背后。如果沒有合適的背景板，測(cè)量會(huì)發(fā)生錯(cuò)誤。標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量方法要求每個(gè)樣品至少測(cè)量三個(gè)點(diǎn)，以獲取光澤均質(zhì)性指征。微型光澤儀統(tǒng)計(jì)測(cè)量模式，可顯示平均值和差值范圍或者顯示測(cè)量樣品的均質(zhì)性的標(biāo)準(zhǔn)偏差值。 |
陶瓷、搪瓷和其他材料使用45°光澤儀，通過測(cè)量失光率可以對(duì)比這些材料的耐酸性，耐堿性或者其他環(huán)境因素的影響。為了評(píng)估光澤的變化有必要多次測(cè)量整個(gè)樣品表面并取平均值，確保得到有代表性的結(jié)果。 |
技術(shù)性能:工業(yè)領(lǐng)域中*可超越
無論您的生產(chǎn)環(huán)境有多糟糕或者允差控制有多嚴(yán)格，微型光澤儀的準(zhǔn)確性和可靠性被成千上萬的用戶所證明它的品質(zhì)很好。長期穩(wěn)定的LED光源不僅能提供長期重復(fù)性高的結(jié)果，而且不再需要更換燈泡，我們甚至對(duì)燈泡的使用壽命給出10年質(zhì)保期。
得益于良好的溫度控制技術(shù)，微型光澤儀保證測(cè)量數(shù)據(jù)高度穩(wěn)定-無論您身處實(shí)驗(yàn)室還是移步至生產(chǎn)線上的“熱點(diǎn)”。我們具有**的校準(zhǔn)程序可確保生產(chǎn)的每臺(tái)光澤儀具有很好的儀器間一致性。無論您的客戶在多遠(yuǎn)的地方，只要他是我們光澤儀眾多用戶中的一員，他就能夠得出跟您-樣的測(cè)量數(shù)據(jù)。
測(cè)量涂料或金屬的光澤-從啞光到鏡面光澤
用微型光澤儀，您可以對(duì)任何材料進(jìn)行光澤測(cè)量涂料、塑料或高光澤的金屬。測(cè)量范圍從啞光產(chǎn)品擴(kuò)展至鏡面這類反射高達(dá)了2000個(gè)光澤單位的產(chǎn)品表面，自動(dòng)校準(zhǔn)且無需額外校正。始終保持可靠的結(jié)果-符合標(biāo)準(zhǔn)。
代理供應(yīng)byk gardner micro-tri-gloss 45度光澤度儀
篤摯儀器（上海）有限公司主營檢測(cè)儀器設(shè)備有：
==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量儀；
==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量儀、千分尺、卡尺；
==>>德國EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>德國艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
==>>美國API XD系列激光干涉儀；
==>>美國GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
==>>德國森薩帕特sensopart工業(yè)傳感器，光電傳感器、超聲波傳感器、測(cè)距傳感器；
==>>美國FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
==>>TRIMOS測(cè)長儀、測(cè)高儀、萬能測(cè)長機(jī)；
==>>杭州思看科技三維掃描儀.
